靜電放電的危害及靜電系統(tǒng)的優(yōu)勢
發(fā)布時間：2020-12-07 10:08
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靜電放電是無論是直接對電子設備放電還是間接對電子設備放電，都會損壞電子設備。它不僅會導致設備功能突然失效，還會導致設備功能潛在故障。靜電無線監(jiān)控系統(tǒng)專門針對靜電放電問題研發(fā)，可最大程度生對靜電放電進行防治。
1、 突發(fā)故障
突發(fā)故障是指當電子設備暴露在ESD環(huán)境中時，電路參數(shù)可能會發(fā)生重大變化，并且其功能可能會丟失。 ESD可能會導致金屬熔化并導致絕緣層短路或擊穿等，并對設備的電路造成永久性損壞。 可以在發(fā)貨前在成品測試中檢測到此類故障。 據(jù)有關統(tǒng)計，在靜電損壞的電子設備中，突發(fā)故障約占故障總數(shù)的10％。
強靜電場將導致MOS場效應器件的柵氧化層擊穿，從而導致器件失效。 通常，MOS器件的柵氧化膜的厚度約為1（T7m）。 當電路設計不采取保護措施時，即使在100 V的靜電電壓下，即使是致密且無針孔的高質(zhì)量氧化層也將被擊穿。盡管采用保護措施的電路的擊穿電壓可能會高于100V，危險的靜態(tài)電源的電壓可能是幾千伏，甚至數(shù)萬伏。 因此，高壓靜電場的擊穿效果仍然是對MOS電路的主要危害。此外，高壓靜電場還可能導致多層布線電路之間或金屬化布線之間的電介質(zhì)擊穿，從而導致電路故障。
2、潛在故障
潛在故障是指設備暴露在ESD環(huán)境中時，設備的性能可能會部分下降，但不會暫時影響其正常功能。 但是，對大大縮短設備的使用壽命。 此損壞是累積性的。 隨著遭受的ESD脈沖數(shù)量的增加，器件的靜電損壞電壓閾值逐漸降低，或者器件的參數(shù)逐漸劣化。 據(jù)統(tǒng)計，潛在故障占電子設備ESD故障總數(shù)的90％。 因此，電子設備的潛在故障更為有害。 如今，大多數(shù)電子設備都是通過MOS工藝制成的，該工藝對靜電極為敏感。
